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涂层测厚仪

Qnix4200涂层测厚仪

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  • 参数
  • 评价

        产品特点

        QuaNix4200型号一体化设计,只需调零,无需校准,使用极其简单。QNix4200为磁性测厚仪,可以用来测量钢铁等磁性基体,金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。操作简单,携带方便,精度高,为广大用户所喜爱。

        产品功能

        只需调零,无需校准、体积小巧,操作方便,自动识别基体、精度高、价格便宜

技术参数

磁性基体(Fe模式)有此功能
测量范围Fe:0-3000um
显示精度1um
精度0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%读数
1000-3000um≤±3%读数
最小接触面10×10mm/QNix4500
最小曲率半径凸面:3mm;凹面:25mm
最小基体厚度Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围0-60℃
显示LCD液晶(带背光)
探头红宝石固定式
电源2×1.5V干电池
尺寸100×60×27mm
重量110g

设备成套性

主机、电池、标准基体

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