JRT 0045.2—2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第2 部分：借记贷记应用终端检测规范

JR/T 0045 《中国金融集成电路（IC）卡检测规范》 分为5个部分：

——第 1 部分：借记/贷记应用卡片检测规范；

——第 2 部分：借记/贷记应用终端检测规范；

——第 3 部分：借记/贷记应用个人化检测规范；

——第 4 部分：非接触卡片检测规范；

——第 5 部分：非接触终端检测规范。

本部分为JR/T 0045的第2部分。

本部分按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。

本部分代替JR/T 0045.2—2008《中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第2部分：借记/贷记应用终端检测规范》。

本部分与JR/T 0045.2—2008相比主要变化如下：

——修改了标准的前言；

——修改了测试案例的案例编号；

——删除了对 DDF 的描述和与 DDF 相关的测试案例、金额与 PIN 的输入过程相关的测试案例和旧的终端随机数测试案例；

——修改了 PPS 案例测试案例和 SDA 相关测试案例；

——增加了支持再同步终端测试案例、异常情况测试案例、兼容性测试案例、应用选择测试案例、4 种 CDA 模式测试案例、国密算法测试案例、电子现金终端测试案例、新的终端随机数测试案例、圈存日志测试案例和不支持脱机密文 PIN 情况的测试案例；

——对原标准在文字描述上的勘误做出修正。

本部分由中国人民银行提出。

本部分由全国金融标准化技术委员会（SAC/TC180）归口。

本部分主要起草单位：中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、捷德（中国）信息科技有限公司、金雅拓科技（北京）有限公司、中国金融电子化公司。

本部分主要起草人：王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、汤沁莹、齐大鹏、李春欢、刘志刚、张永峰、余沁、李乃珊、胡盖、于虹、陆洋、王二军、张跃、金自荣、黄海龙、高大伟、程晋疆、周权、陈莹、冯欢、张艳。

本部分于2008年首次发布，本次为第一次修订。