JRT 0045.1—2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第1 部分：借记贷记应用卡片检测规范

JR/T 0045《中国金融集成电路（IC）卡检测规范》 分为 5 个部分：

——第 1 部分：借记/贷记应用卡片检测规范；

——第 2 部分：借记/贷记应用终端检测规范；

——第 3 部分：借记/贷记应用个人化检测规范；

——第 4 部分：非接触卡片检测规范；

——第 5 部分：非接触终端检测规范。

本部分为JR/T 0045的第1部分。

本部分依据GB/T 1.1—2009给出的规则起草。

本部分代替JR/T 0045.1—2008《中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第1部分：借记/贷记应用卡片检测规范》。

本部分与JR/T 0045.1—2008相比主要变化如下：

——修改了标准的前言；

——删除 T=1 协议重发的部分案例；

——删除要求执行发卡行脚本与外部认证关联的案例；

——修改了部分发卡行脚本执行案例；

——增加了在长度大于 1024 位的 CA、发卡行和 IC 卡密钥长度时的静态和动态数据认证案例；

——增加了卡片在 ATM 上被受理的测试；

——增加了 PPSE 相关案例；

——增加了基于借记贷记的小额支付检测案例；

——增加了多应用选择的检测案例；

——对第 9 章中的个人化要求数据做了少量修改；

——对原标准在文字描述上的勘误做出修正。

本部分由中国人民银行提出。

本部分由全国金融标准化技术委员会（SAC/TC180）归口。

本部分主要起草单位：中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、中钞

信用卡产业发展有限公司、百富计算机技术（深圳）有限公司、深圳市新国都技术股份有限公司、惠尔丰（中国）信息系统有限公司、福建新大陆电脑股份有限公司、上海杉德金卡信息系统科技有限公司、深圳视融达科技有限公司、北京握奇数据系统有限公司、中国金融电子化公司。

本部分主要起草人：王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、汤沁莹、齐大鹏、刘志刚、张永峰、余沁、郑超、张策、李乃珊、张庆、李春欢、张栋、李一凡、李小平、宁婷婷、何海玲、赵亚平、李伟海、翁锋华、李传婕、隋欣桐、肖含、顾伯华、尤萌、马洁荣、张艳。

本部分于 2008 年首次发布，本次为第一次修订。